鍍層膜厚測試儀性能，可測量任一測量點，小可達0.025 x 0.051毫米。能夠測量包含原子序號13至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。 精確度于，精確到0.025um (相對與標準片)
數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。 XULM X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
膜厚儀操作 WINWIF系統、WIN系統及FIM系統，其適合用于微電子器件、數據偶合器、光通訊和數據貯存、半導體、光通訊、微電子、光子學、無源器件和薄層磁頭金屬化分析等。
膜厚儀操作，博曼膜厚儀能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩定、無損的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越,而且價錢超值，同比其他牌子相同配置的機器菲希爾鍍層測厚儀 為您大大節省成本。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的
BOWMAN(博曼）膜厚測試儀簡介：
1.小巧獨特的設計，為您盡可能節省成本，是進口熒光分析儀實惠的產品，適合中小工件的測量，功能使用，準確性特高，是五金、首飾、端子等行業的。
2.輕巧的設計，半開放式測試箱，可容納大件的PCB產品，功能強大，可配合激光自動對焦，全方位自動樣品臺等功能使用。適合中小工件及PCB等產品行業。更配備了半導體電子冷卻檢測器，令分辨率數倍提高，可測量非常薄的鍍層，滿足于半導體電子工業的應用。
3.寬大的測試箱，精簡的配置，同樣為您盡可能節約成本，卻能測量較大的工件。升級能力強大，可配合激光自動對焦，全方位自動樣品臺等使用。適用于汽車、五金、PCB等行業。
4.豪華的設計，寬大的測試箱，集所有優點于一身。更配備半導體電子冷卻檢測器，令儀器的綜合性能指數變得無出其右。適合各類行業使用。