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膜厚測試儀/鍍層膜厚測試儀/鍍層膜厚儀/PCB鍍金膜厚測試儀/膜厚測量儀/X射線膜厚測試儀

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膜厚測試儀哪家優(yōu)惠,金東霖美國博曼
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產(chǎn)品/服務: 瀏覽次數(shù):259鍍層膜厚測試儀 
型 號: XRF-1 
品 牌: 美國博曼 
單 價: 電議/面議 
起訂量:  
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
更新日期: 2014-11-07  有效期至:長期有效
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產(chǎn)品屬性
 產(chǎn)品型號:  XRF-1
 產(chǎn)品規(guī)格:  
 產(chǎn)品品牌:  美國博曼
詳細信息

美國博曼(BOWMAN)膜厚測試儀測量電鍍、PCB等各種金屬鍍層的厚度,使用安全簡便,堅固耐用節(jié)省維護費用,高分辨率探測器硅PIN檢測器250 ev,配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
X-射線博曼電鍍膜厚測試儀應用領(lǐng)域于分析電子部品電鍍層的厚度 ,各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析,各鍍層的成分比例分析等。博曼鍍層膜厚測試儀用于高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ,應用于端子,連接器,細小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛(wèi)浴,等行業(yè),使用安全簡便,堅固耐用節(jié)省維護費用,高分辨率探測器硅PIN檢測器250 ev,配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。
 
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