博曼臺式x射線測厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
博曼臺式x射線測厚儀能實現如下測試要求：
符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在絕大多數嚴苛的工業條件下使用。
空間占用小 –節約寶貴的工作臺空間，也可近產線放置。
計算機提供USB和以太網接口用于連接打印機、光驅和網絡。
行業用于電子元器件，半導體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個行業表面鍍層厚度的測量. 
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