點擊圖片查看大圖博曼膜厚測試儀對于鍍層：不僅可以測量其成分比例，還可以測量器厚度!
博曼膜厚測試儀可靠地測量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可達到的測量下限Pb為2 ppm，對Cd為10 ppm.
RoHS / WEEE對Pb的限制為1000 ppm以及對Cd為100 ppm，儀器能可靠地予以驗證。
塑料樣品可以不考慮其厚度而進行準確分析。
博曼膜厚測試儀即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統也可以高精度地分析。
XY(Z)平臺可用來自動掃描印刷線路板
鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量，我公司是博曼（bowman）儀器的大陸代理商，專業銷售：復合鍍層測厚儀、X射線元素分析儀、線路板銅厚測量儀、合金分析儀、產品RoHS檢測儀，鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量儀.
整體描述：
美國BOWMAN X-RAY 設備遵循 ASTM B568， DIN 50 987 和 ISO 3497 等國家和國際標準，主 要基於鍍層厚度測量和材料分析的 X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用 新的 FP (Fundamental
Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半導體接收器，分辨率較傳統品牌比例接收品提高數倍,較傳統X-RAY精確度提高了50%以上， 在測試薄金（Au)方面表現更為突出。
（2）、超常保固期：2年（24個月），較其它品牌整機延長一倍；
（3）、前沿的測量技術：所有產品均為美國原裝進口，
超低的售價：相對于其它品牌同檔次的機型售價降低了50%
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