美國(guó)博曼X射線熒光測(cè)厚儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，（稱為二次熒光）,再計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算金屬元素鍍層的厚度，這一儀器對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無損測(cè)量，減少企業(yè)的成本損失，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi)，是一款應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測(cè)量?jī)x 分析元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測(cè)器硅PIN檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測(cè)量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25種元素，是您測(cè)量的選擇。