點擊圖片查看大圖美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀，采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量。能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能卓越,而且價錢超值.分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度。
對于鍍層：不僅可以測量其成分比例，還可以測量厚度!
美國BOWMAN（博曼）PCB板X-RAY膜厚儀
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