點擊圖片查看大圖是一款全面強大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
元素光譜定性分析:精度高、穩定性好.強大的數據統計、處理功能.
隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。并且，配備有新開發的薄膜 FP 法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。
半導體BOWMAN X射線熒光美國膜厚測試儀
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半導體BOWMAN X射線熒光美國膜厚測試儀
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詳細信息 是一款全面強大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品，滿足鍍層厚度測量和材料分析。 元素光譜定性分析:精度高、穩定性好.強大的數據統計、處理功能. 隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。并且，配備有新開發的薄膜 FP 法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。 相關產品 共0條 相關評論  免責聲明：（1）以上所展示的信息由企業自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布企業負責，環球塑化網對此不承擔任何保證責任。我們原則上建議您優先選擇“塑企通”會員合作! （2）同時我們鄭重提醒各位買/賣家，交易前請詳細核實對方身份，切勿隨意打款或發貨，謹防上當受騙。如發現虛假信息，請向環球塑化網舉報。
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